失效分析
服務(wù)項(xiàng)目 / 失效分析 / 物性分析 / 離子束剖面研磨(CP)
離子束剖面研磨(CP)
項(xiàng)目描述
離子束剖面研磨、離子束截面研磨(Cross Section Polisher, 簡(jiǎn)稱(chēng)CP)，是利用離子束切割方式，去切削出樣品的剖面，不同于一般樣品剖面研磨，離子束切削的方式可避免因研磨過(guò)程所產(chǎn)生的應(yīng)力影響。
任何材料都可以以離子束剖面研磨(CP)進(jìn)行約1mm大范圍剖面的制備，由于不受應(yīng)力影響，因此更適用于樣品表面之材料特性的分析(例如EDS、AES、EBSD等表面分析)，有效樣品處理范圍約可達(dá)500μm。
應(yīng)用范圍
軟性材料，例如銅、鋁、金、錫、高分子材料(須特別注意熔融溫度)；
硬性材料，例如陶瓷、玻璃等；
復(fù)合材料，由金屬材料、陶瓷材料或高分子材料等兩種或以上復(fù)合的多相材料。
檢測(cè)圖片