失效分析
服務(wù)項(xiàng)目 / 失效分析 / 電性檢測(cè) / 電特性測(cè)試
電特性測(cè)試
項(xiàng)目描述
根據(jù)規(guī)格書(shū)中廠商所指定的器件引腳及相關(guān)說(shuō)明，使用半導(dǎo)體管特性圖示儀，檢查復(fù)驗(yàn)樣品是否有開(kāi)路、短路、阻抗異常等問(wèn)題，以此來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品的失效模式。
分析范圍
半導(dǎo)體元器件、PCBA。
適用于
元器件質(zhì)量的初選，能滿足客戶貼裝前開(kāi)短路測(cè)試篩選，降低用戶的芯片上機(jī)使用風(fēng)險(xiǎn)。
實(shí)驗(yàn)室的優(yōu)勢(shì)
1、工期短，結(jié)果準(zhǔn)確，可靠性高
2、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備針對(duì)復(fù)雜的集成電路量測(cè)內(nèi)部二極管特性更快，更直觀的反應(yīng)芯片沒(méi)有有無(wú)開(kāi)路、短路、漏電、參數(shù)漂移等問(wèn)題；
3、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備對(duì)二極管、MOS管、三極管基本的參數(shù)能夠更直觀的反應(yīng)其I-V特性；
檢測(cè)圖片