失效分析
服務(wù)項目 / 失效分析 / 電性檢測 / 半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
項目描述
利用SMU(Source measurement unit)供應(yīng)電壓或電流，驗證與量測半導(dǎo)體組件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲線等)。
應(yīng)用范圍
DC組件及導(dǎo)體組件特性量測
電性失效分析量測(EFA, Electrical Failure Analysis)
輔助后續(xù)電性測試(Force V Measure I / Force I Measure V)
CMOS 晶體管、雙極晶體管 Ic-Vc、二極管、Gummel 曲線圖、擊穿和電容等
分立器件、內(nèi)存 Vth、電容、耐久性測試、功率器件等
檢測設(shè)備圖片
檢測優(yōu)勢
1.測試時效快，搭配點針臺可進行各種封裝型式的量測。
2.依據(jù)需求選擇不同設(shè)備。