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兔拉檢測(cè)
服務(wù)項(xiàng)目
元器件真?zhèn)螜z測(cè)
破壞性檢測(cè):
丙酮測(cè)試刮擦測(cè)試HCT測(cè)試（Heated Chemical Test）開(kāi)蓋檢測(cè)
無(wú)損檢測(cè):
標(biāo)簽檢測(cè)外觀檢測(cè)X-RAY檢測(cè)功能檢測(cè)CT檢測(cè)（3D x-ray）
增值服務(wù):
編帶（Tape and reel ）烘烤（Baking ）
DPA檢測(cè)
外觀檢測(cè)X-RAY檢測(cè)可焊性測(cè)試開(kāi)蓋檢測(cè)超聲波掃描（SAM）檢測(cè)功能檢測(cè)密封粒子碰撞噪聲檢測(cè)內(nèi)部水汽含量推拉力測(cè)試
失效分析
電性檢測(cè):
電特性測(cè)試點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)半導(dǎo)體組件參數(shù)分析靜電測(cè)試/耐壓測(cè)試
破壞性物理分析:
開(kāi)蓋檢測(cè)切片測(cè)試芯片去層 (Delayer)
非破壞性分析:
X-RAY檢測(cè)超聲波掃描（SAM）檢測(cè)數(shù)碼顯微鏡（3D Optical Microscope）
物性分析:
離子束剖面研磨(CP)剖面、晶背研磨掃描式電子顯微鏡(SEM)
失效點(diǎn)定位:
砷化鎵銦微光顯微鏡激光束電阻異常偵測(cè)Thermal EMMI
工程樣品封裝服務(wù):
晶圓劃片芯片打線/封裝
競(jìng)爭(zhēng)力分析:
芯片結(jié)構(gòu)分析
化學(xué)分析
ROHS檢測(cè)無(wú)鉛檢測(cè)重金屬檢測(cè)
材料分析
穿透式電子顯微鏡(TEM)掃描式電子顯微鏡(SEM)雙束聚焦離子束
開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
關(guān)鍵功能測(cè)試:
功能檢測(cè)分立元器件測(cè)試編程燒錄 （Programming）
新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測(cè)試（FT）:
FPGA開(kāi)發(fā)單片機(jī)開(kāi)發(fā)測(cè)試電路板設(shè)計(jì)
公司實(shí)力
質(zhì)量認(rèn)證

兔拉檢測(cè)通過(guò)了檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定（CMA）、ISO 9001質(zhì)量管理體系、ISO 14001環(huán)境管理體系及ISO 45001職業(yè)健康安全管理體系等認(rèn)證，并擁有多項(xiàng)專(zhuān)利。

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境

兔拉檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室遵循嚴(yán)謹(jǐn)?shù)陌踩珮?biāo)準(zhǔn)，保持嚴(yán)格的環(huán)境控制。

儀器設(shè)備

兔拉檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備了齊全的檢測(cè)儀器，滿足各類(lèi)元器件的檢測(cè)需求，提供多項(xiàng)檢測(cè)方案和定制方案等服務(wù)。

質(zhì)量認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室環(huán)境儀器設(shè)備
關(guān)于我們

深圳市兔拉檢測(cè)科技有限公司總部設(shè)于中國(guó)深圳市，是國(guó)內(nèi)獨(dú)立第三方元器件檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)，擁有CMA資質(zhì)(中國(guó)計(jì)量認(rèn)證)以及ISO9001認(rèn)可，檢測(cè)服務(wù)范圍覆蓋全球。

多年專(zhuān)業(yè)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
百萬(wàn)級(jí)自有檢測(cè)數(shù)據(jù)
優(yōu)選先進(jìn)檢測(cè)設(shè)備
眾多專(zhuān)業(yè)檢測(cè)人才
公司簡(jiǎn)介企業(yè)新聞聯(lián)系我們人才招聘
失效分析
服務(wù)項(xiàng)目 / 失效分析 / 工程樣品封裝服務(wù) / 晶圓劃片
晶圓劃片
項(xiàng)目描述
將晶圓或組件進(jìn)行劃片或開(kāi)槽，以利后續(xù)制程或功能性測(cè)試。
應(yīng)用范圍
1.一般晶圓劃片
2.多芯片晶圓劃片(Multi Project Wafer, MPW)
3.共乘芯片再劃片
4.基板劃片(封膠或不封膠)
5.陶瓷/玻璃板劃片
6.IPD劃片
7.可切材料：硅片、陶瓷、玻璃、氧化鋁、PCB、氮化鋁、鈮酸鋰、石英等
檢測(cè)設(shè)備圖片
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